久之洋获得发明专利授权:“一种动态扫描状态下的激光测距光学系统”

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 · 上海  

证券之星消息,根据天眼查APP数据显示久之洋(300516)新获得一项发明专利授权,专利名为“一种动态扫描状态下的激光测距光学系统”,专利申请号为CN202111461462.X,授权日为2025年9月30日。

专利摘要:本发明公开了一种动态扫描状态下的激光测距光学系统,包括脉冲激光器和激光探测器;包括沿光轴方向依次布设的激光发射系统、二维扫描镜、折转反射镜和激光接收系统;二维扫描镜和折转反射镜的法线方向与光轴方向成45°布设;激光接收系统包括俯仰扫描反射镜和方位扫描反射镜,俯仰扫描反射镜和方位扫描反射镜的法线方向与光轴方向成45°布设;二维扫描镜、俯仰扫描反射镜和方位扫描反射镜角度能够调整。通过对二维扫描镜、俯仰扫描反射镜和方位扫描反射镜角度的调整,实现接收系统探测角度的变化。处于平行光中的俯仰和方位扫描反射镜能够减小自身的尺寸,降低了其定位精度和所需的转动调整时间的要求,实现在动态扫描

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