FormFactor与Microtron将于2026年1月28日在HTC Eindhoven举办为期一天的技术研讨会，并得到合作伙伴Keysight与Advantest的支持
随着半导体器件迈向亚太赫兹频率、硅光子技术迅速从研究实验室走向大规模制造，晶圆级测试既成为关键瓶颈，也成为竞争优势。
要在高达250 GHz的频率下获得准确、可重复的晶圆级测试结果，同时支持自动化的硅光子生产，所需的不仅是小幅的增量升级。这需要全新的探测架构、更智能的校准方法，以及能够在实验室与量产之间无缝切换的测试解决方案。
为解决这些挑战，FormFactor与Microtron将于2026年1月28日在HTC Eindhoven举办为期一天的技术研讨会，并得到合作伙伴Keysight与Advantest的支持，聚焦高频晶圆级探测与硅光子测试的最新创新。
为什么高频与硅光子晶圆测试如此重要
6G无线、汽车雷达、高速互连以及光子集成电路（PIC）等应用，正将晶圆测试推向全新领域。工程师被要求在传统方法开始失效的频率范围，交付更高的精度、更好的重复性与更快的吞吐。
传统的晶圆测试方法常常难以满足以下要求：
在毫米波与亚太赫兹频率维持信号完整性。 在研发与生产之间实现一致、可重复的结果。 将硅光子测试流程从器件表征扩展到大规模制造。
本研讨会将直面这些挑战，重点介绍已在下一代器件上应用的成熟晶圆级探测系统、先进校准技术与硅光子测试解决方案。
你将学到什么
下一代宽带晶圆级探测（DC–250 GHz）
了解最新探针系统如何实现一次扫频即可完成高达250 GHz的测量，在不牺牲信号完整性的前提下简化测试搭建。现场演示将展示这些解决方案如何同时支持先进器件表征与制造测试。
Keysight全新250 GHz频率扩展器
Keysight将介绍其全新的250 GHz频率扩展器，演示其如何与晶圆级探测系统直接集成，实现更快速、更可信的宽带测量。
模态校准：提升精度与重复性
探索“模态校准”（以差分为重点的校准方法）如何在先进研究与大规模晶圆测试环境中提升精度、重复性与测量关联性。
硅光子测试：从实验室到量产
了解FormFactor的硅光子探测技术如何支持可扩展、自动化的晶圆级测试——从早期器件开发到大规模生产：
Pharos™——一款用于晶圆级硅光子测试的精密探针，支持自动、可重复的边缘耦合。 TRITON™——面向大规模硅光子制造测试的坚固、量产就绪解决方案。
研讨会议程速览
日期：2026年1月28日
时间：9:00–17:30
地点：HTC Eindhoven
议程亮点包括：
宽带一次扫频DC–250 GHz晶圆级探测系统。 Keysight频率扩展器技术。 面向先进晶圆测试精度的模态校准技术。 面向实验室与生产的硅光子测试解决方案。 现场演示、专家讨论与延展交流。
每个技术环节均预留深入问答时间，展区与交流区域将持续进行面对面讨论。