正业科技：我司当前未涉及碳化硅相关产品

同花顺（300033）金融研究中心09月12日讯，有投资者向正业科技（300410）提问， 请问公司的仪器设备是否有用于半导体衬底材料碳化硅（SiC）的检测？谢谢！

公司回答表示，尊敬的投资者，您好，半导体衬底材料碳化硅（SiC）常用的亚表面缺陷检测技术包括光致发光（PL）和X射线形貌（XRT）、光学相干断层扫描（OCT）和拉曼光谱（Raman）等，我司当前未涉及相关产品。感谢您的关注。

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来源：同花顺财经

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